Produktbeskrivning
Aktiv prob för Siglent SDS5000X- serien
En aktiv prob ger lägre kapacitiv last på testobjektet, vilket är av betydelse vid mätning av högre frekvenser.
Probe Bandwidth >1 GHz
DC Input Resistance 1 MO
Input Capacitance 1.2 pF
Input Dynamic Range ±8 V
Probe Offset Range ±12 V
SAPBus interface
En aktiv prob ger lägre kapacitiv last på testobjektet, vilket är av betydelse vid mätning av högre frekvenser.
Probe Bandwidth >1 GHz
DC Input Resistance 1 MO
Input Capacitance 1.2 pF
Input Dynamic Range ±8 V
Probe Offset Range ±12 V
SAPBus interface
